【講演概要】 

従来のMie散乱原理では、ナノファイバー計測は容易ではない。本研究では、2光束の入射によるMie散乱光に基
づき従来で難しかったナノファイバーの直径を評価する手法を提案する。COMSOL Multiphysics®を用いて散乱光
強度の分布について解析し、基本原理を確認する。また、本発表では、実験による検証結果を示し、本計測原理
のパフォーマンスについて紹介することを予定している。
 

【キーワード】　

ナノファイバー, Mie散乱
 

【使用製品】

COMSOL Multiphysics, 波動光学モジュール
 

【共同著作者】　

東京大学 精密工学専攻 村上宗二朗 様
東京大学 先端科学技術研究センター 門屋祥太郎 様
東京大学 先端科学技術研究センター 高橋 哲 様
 

【English title】　

Nano-fiber measurement using Mie-scattering light by two wave illumination
 

【Abstract】　

Conventionally, it is not easy to measure a nanofiber with the Mie scattering principle. In this pre
sentation, we propose a method to evaluate the diameter of a nanofiber on a basis of Mie scattered
light from two incident light sources. The distribution of scattered light intensity was analyzed
using COMSOL Multiphysics to confirm the basic principle. In this presentation, we will also
show the experimental verification results and introduce the performance of this
measurement principle.
 

【Keyword】　

Nano fiber, Mie scattering

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【講師紹介】

東京大学 精密工学専攻 准教授 道畑 正岐 先生