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- 二光束入射のMie散乱を用いたナノファイバー計測
概要
従来のMie散乱原理では、ナノファイバー計測は容易ではない。本研究では、2光束の入射によるMie散乱光に基づき従来で難しかったナノファイバーの直径を評価する手法を提案する。COMSOL Multiphysics®を用いて散乱光強度の分布について解析し、基本原理を確認する。また、本発表では、実験による検証結果を示し、本計測原理のパフォーマンスについて紹介することを予定している。
発表者
道畑 正岐
東京大学 精密工学専攻 高橋研究室 准教授
共同著者
村上宗二朗 様（東京大学 精密工学専攻）
門屋祥太郎 様（東京大学 先端科学技術研究センター）
高橋 哲 様（東京大学 先端科学技術研究センター）
キーワード
ナノファイバー、Mie散乱
資料公開
不可