SEMINAR
セミナー
セミナー概要
弊社取り扱いの『DeepInspect』は、少ない学習数で素早く簡単に検査が始められるという特長を持つ、AI外観検査ソフトウェアです。これまで多くの展示会等で、どういった検査なら実現できて、どういった検査は難しい傾向にあるかという事について、多くのご質問やお問い合わせを頂きました。 本セミナーでは、皆様の検査課題にAI外観検査がどのように適用できるかを具体的にイメージしていただけるよう、開発元であるSwitchon社の事例や弊社での検討事例をご紹介いたします。 生産性向上や品質改善といった価値につながる可能性をご理解いただける内容です。ぜひ、次の一歩を見つける場としてご活用ください。
■セミナー内容:
・外観検査ソフト『DeepInspect』での検査事例紹介
・弊社での検討事例の紹介
・AI外観検査の実現可能性と実行課題のポイントを紹介
■こんな方におすすめ:
・AI外観検査の導入を検討している方
・現状の検査工程に課題を抱え、改善策を模索している方
・少ない学習データで効率的に高精度な検査システムを実現したい方
■製品情報:
AI外観検査 - SwitchOn
講師
参河 孝祐
計測エンジニアリングシステム株式会社 技術部
Information
開催日時 | 2025年2月5日(水) 14:00~15:00 |
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所要時間 | 講演60分(質疑応答含む) |
開催方式 | オンライン |
受講環境 | Microsoft Teams |
申込期限 | 2025年1月29日(水) 17:00 まで |
参加費用 | 無料 |
定員 | 30名 |
備考 | 資料などにつきましては、セミナー事務局( seminar@kesco.co.jp )から送付いたします。 ※迷惑メールフォルダーに振り分けられることがあります。メール不着と思われる場合は、お手数ですが、迷惑メール設定をご確認ください。 |