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- COMSOL Multiphysics®による理論物理モデルをベースとしたナノファイバーの光計測
概要
これまでサブマイクロ/ナノファイバーを評価するには電子顕微鏡しかなかった。そこで、光を用いた手法が提案されているが、直径1 µm程度が本質的に限界であった。本手法では、その限界を突破し、500 nmのファイバーの測定を実現した（原理的には200 nm程度も可能）ので、これについて報告する。
発表者
道畑 正岐
東京大学 工学系研究科 精密工学専攻 准教授
キーワード
Mie散乱、ナノファイバー、マイクロファイバー、定在波
資料公開
可(郵送)
＊こちらの資料は郵送での対応となります。